Application of ion beam analysis to the selective sublimation processing of thin films for gas sensing / Vomiero, A; C., Scian; G., DELLA MEA; V., Guidi; G., Martinelli; G., Schiffrer; E., Comini; M., Ferroni; G., Sberveglieri. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. - ISSN 0168-583X. - 249:(2006), p. 302.
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2006 | |
Titolo: | Application of ion beam analysis to the selective sublimation processing of thin films for gas sensing | |
Rivista: | NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS | |
Volume: | 249 | |
Appare nelle tipologie: | 2.1 Articolo su rivista |
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